Před 1 dnem
Tento týden Intel přišel s vysvětlením, co se děje s procesory Raptor Lake (Core 13. a 14. generace) pro desktop, u nichž je široce hlášena nestabilita, pády her a postupná ztráta fungování. Podle vyšetřování Intelu dochází k tomu, že do procesoru se dostává příliš vysoké napětí, které ho postupně poškozuje (nevratně, bohužel), až přestane být stabilní. Intel k tomu neřekl moc detailů, ale ty teď prosákly na internet a konečně víme víc. Zdá se, že Intel zřejmě s partnery jako jsou výrobci desek a počítačů pod NDA k problému s přílišným napětím poskytl víc informací. Web igor’sLAB se k těmto dokumentům dostal a zveřejnil z nich některé úryvky a informace. Intel našel defekt procesorů Raptor Lake, chystá opravu. Jsou k tomu ale dvě špatné zprávy Podle těchto interních dokumentů Intelu problém postihuje zejména modely Core i7 a Core i9 13. a 14. generace – jak 125W řady K, tak mainstreamové 65W verze. Dokument pokrývá jen desktopové verze Raptor Lake, nikoliv serverové, embedded a notebookové verze, ale je možné, že separátně pro ně také existují hlášení o chybách, toto tedy nemusí být potvrzení toho, že nemají problémy. Jak je to se zvýšeným napětím? Podle analýzy Intelu mají analyzované nestabilní procesory (které uživatelé poslali zpět v rámci záručních výměn kvůli problémům s nestabilitou), typicky zvýšenou tzv. hodnotu Vmin, což znamená minimální provozní napětí. Tím se myslí, že se u nich zvýšilo napětí, které musí být nastaveno, aby stabilně fungovaly, oproti očekávaným hodnotám, které by měl takový procesor vykazovat (a měl je z výroby). Jak asi sami znáte z přetaktování, pokud určitá frekvence čipu není stabilní, je třeba přidat napětí. V tomto případě ale tato nutnost přidání napětí nastává už i bez přetaktování. Tato zvýšená úroveň minimálního vyžadovaného napětí je podle igor’sLAB (respektive citovaného dokumentu od Intelu) projevem poškození čipu, k němuž došlo tím, že v průběhu používání byl vystaven zvýšeným napětím – tedy těm abnormálně vysokým napětím, které Intel označil za viníka i ve veřejně dostupném prohlášení vydaném tento týden, a jejichž vznikání má opravit patch mikrokódu příští měsíc. – Intel observes a significant increase to the minimum operating voltage (Vmin) across multiple cores on returned affected processors from customers. – This increase is similar in outcome to parts subjected to elevated voltage and temperature conditions for reliability testing. Podle Intelu se podobné zvýšení Vmin dá pozorovat, když se procesory podrobují zrychlenému testování za zvýšeného napětí, frekvence a teploty, což má simulovat dlouhodobý provoz. Při takovém testování je ale degradace očekávaná, zatímco při běžném fungování ne. Kde se škodlivé zvýšené napětí bere? Pokud jde o ona nesprávně vysoká napětí, která degradaci čipu (a pozorované zvýšení Vmin) způsobují v běžném fungování, dokument Intelu ukazuje, že zřejmě není problém ani tak ve vysokých zátěžích a dlouhém namáhání procesoru při spotřebách nad 250 W, ale paradoxně možná naopak za nízké spotřeby v klidu mimo zátěž. Na vině je zřejmě to, že nebezpečné vysoké špičky napětí vznikají na kratičký okamžik tehdy, když je procesor probuzen z úsporného stavu k obsloužení nějakého procesu a poté je zase uspán. – Even under idle conditions at relatively cool temperatures, sporadic elevated voltages are observed when the processor is resumed from low power states in order to service background operations before entering a low power state again. – At a sufficiently high voltage, these short-duration events can accumulate over time, contributing to the increase in Vmin. Mohou být úsporné režimy větší problém než plná zátěž? Pokud se potvrdí, že poškození čipu vysokým napětím spoušt
